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MEB en proceso de alineación del haz de electrones

MEB.jpeg Usuaria 1ThumbnailsEquipo de secado por punto crítico (manual)Usuaria 1ThumbnailsEquipo de secado por punto crítico (manual)Usuaria 1ThumbnailsEquipo de secado por punto crítico (manual)Usuaria 1ThumbnailsEquipo de secado por punto crítico (manual)Usuaria 1ThumbnailsEquipo de secado por punto crítico (manual)Usuaria 1ThumbnailsEquipo de secado por punto crítico (manual)

Microscopio lectrónico de Barrido
Marca: JEOL
Modelo: JSM-6610LV
El microscopio permite obtener imágenes de la superficie de objetos con una Magnificación: desde 5x hasta 300.000x según el espécimen.
Resolución: hasta 3,0 nm nominales a 30kV, dependiendo del espécimen.
Modos de trabajo: Alta o bajo vacío.
Modos de obtención de imágenes:
Con detectores de electrones secundarios para obtener imágenes de morfológía o topografía de la superficie.
Con electrodos retrodispoersados (o de Backsacatter) permite obtener imiagenes de contraste químico que permite la ubicación y facilita la identificación de diferentes compuestos presentes en la muestra.